 |
|
|
| |
地址：西安市南二环东段80号
翔园大厦12-5室
电话 ：029-82214461
|
|
| |
| |
|
| 产品展示 |
| |
|
| |
半导体制造： |
| |
|
| |
产品名称 |
高低温自动探针台 |
产品型号 |
Precio Octo with Hot&cold |
制造厂商 |
东京电子有限公司 |
产品介绍 |
东京电子有限公司
TEL—Tokyo Electron Limited是全球领先的半导体生产设备供货商。
探针测试台半导体制造过程应用及介绍： 晶圆测试曾被认为是半导体制造节约成本的一种方法，现在它已成为工艺控制、成品率管理以及总 测试成本的一个关键因素。 探针测试主要应用于半导体生产流程中 WAT（wafer accept test) 测试和晶圆针测（Chip Probing)。 1.WAT 测试，亦即根据电气测试值来分析半导体前段制成是否有问题。WAT测试视为晶圆出厂前的最后一 道防线，在WAT的测试下可以确保某个程度上的品质稳定性。而WAT的主要目的是模拟客戶所设計的电 路，並监控Fab製程的穩定性及增进产品良率，所以WAT對IC设計而言扮演著很重要的角色。而对IC而言，基 本的電性参数，例如MOS特性的量測、阻值...等，是保证IC是否能正常运作的基本指标。因此在量測基本电 性參数应与原本设计之大小相符合的条件下，使得IC在正常情況下可正常运作。 2.晶圆针测（Chip Probing；CP）之目的在于针对芯片作电性功能上的 测试（Test），使 IC 在进入构装 前先行过滤出电性功能不良的芯片，以避免对不良品增加制造成本。 半导体制程中，针测制程只要换上不同 的测试配件，便可与测试制程共享相同的测试机台（Tester）。
|
|
|
|
| |
|
| |
|
|
|
